【書報討論】105/3/31 國立成功大學E化製造研究中心 鄭芳田講座教授
日期/時間:2016-3-31(四) 3:30 PM~5:00 PM
地點:清華大學工程一館107演講廳
演講題目:運用全自動虛擬量測與先進製造物聯雲之工業4.1
演講者:國立成功大學 E化製造研究中心 鄭芳田 講座教授
演講摘要:
虛擬量測技術可在產品尚未或無法進行實際量測之情況下,利用生產機台參數,推估其所生產之產品品質,以便達到全檢之標的;換言之,虛擬量測可將離線且具延遲特性之品質抽檢改成線上且即時之品質全檢。本演講首先將介紹全自動虛擬量測(AVM)系統之原理與功能,並展示把AVM系統應用於半導體與平面顯示器等高科技產業,和汽車輪圈加工等傳統工具機產業的實例。
物聯網、巨量資料分析、雲端運算、虛實系統等先進資通技術可以被應用來實現高度垂直整合的智慧製造系統。如此,將可減少未預期的機台失效與維護成本,提升產品的良率與品質,並增加工廠的生產力與效率。本演講緊接將說明如何能運用物聯網、巨量資料分析、雲端運算、虛實系統、與AVM等技術,發展一個「先進製造物聯雲」,其將可應用於我國之半導體、面板、及太陽能電池等之高科技製造產業,與如工具機等之傳統製造產業。
目前世界各國所提出的與工業4.0相關之技術,僅能將“接近零缺陷(nearly Zero Defects)”當做願景,但並無法做到真正零缺陷之境界;其關鍵原因是因為他們沒有具經濟實惠特性的線上即時全檢技術。然而,採用成大之AVM技術就可達成產品零缺陷之標的。所以,將AVM技術加入具工業4.0的系統後,其就能做到產品零缺陷之境界,此境界就是我們所定義的“工業4.1”。
講者簡歷:
鄭芳田講座教授於1976年從成大電機畢業後就進入國防部中山科學研究院服務。1995年起回成大製造工程研究所擔任教職,並致力於在中科院所磨練出來的自動化系統與整合技術及經驗,轉應用於半導體、面板、太陽能電池、與工具機等產業的生產製程改善、生產自動化、與E化製造的研究領域上,順遂改善生產製程與降低生產成本致提高產業競爭力的目標。
鄭教授致力於生產製程改善與製造領域自動化和E化的學術研究及產業應用之成果豐碩。其中,在虛擬量測的學術與應用研究領域上,更是獨步全球;其所發表的與虛擬量測相關之20篇期刊論文成果,亦同時榮獲五國之多項發明專利;且已成功完成31項技術移轉給多家半導體(台積電、聯電、與日月光)、面板(奇美與友達)、太陽能(茂迪)等高科技產業廠商,和與航太(漢翔)及工具機(遠東機械)等相關之傳統產業廠商,及財團法人(工業技術研究院與金屬工業發展中心)等使用,對於學術研究及產業發展貢獻卓越。
鄭教授國內外重要榮譽與獎勵有:「行政院2011年傑出科技貢獻獎」、三次國科會之「傑出研究獎」 (自動化領域) (2006, 2009, 2013年度)、國科會95年度之「傑出產學合作獎」、經濟部智慧財產局101年度「國家發明創作獎之發明獎金牌」、2008年經濟部之「大學產業經濟貢獻獎-產業貢獻獎(個人獎)」、教育部91年度之「大學校院教師產學合作獎」、2009年起之國立成功大學講座教授、2010年財團法人東元科技文教基金會之「第十七屆東元獎」、2013國際電機電子工程師學會Inaba創新引導生產科技獎(IEEE Inaba Technical Award for Innovation Leading to Production)、2014年潘文淵文教基金會之「研究傑出獎」、2014年李國鼎科技與人文講座-「李國鼎榮譽學者獎」、2015年中華民國斐陶斐榮譽學會第20屆「傑出成就獎」、2008年起國際電機電子工程師學會會士(IEEE Fellow)、兩次IEEE機器人與自動化國際學術研討會之自動化領域的最佳論文獎 (IEEE ICRA 1999 & 2013 Best Automation Paper Awards)。